熱門搜索：
代理日本品牌：OTSUKA大塚電子（薄膜測厚儀、相位差膜設(shè)備等）、USHIO牛尾點光源、CCS檢查光源、Aitec艾泰克、REVOX萊寶克斯、ONOSOKKI小野測器、YAMATO雅馬拓、KOSAKA小坂臺階儀、SEN特殊光源、TSUBOSAKA壺坂電機、NEWKON新光、TOKISANGYO東機產(chǎn)業(yè)、tokyokeiso東京計裝、leimac雷馬克、MIKASA米卡薩勻膠機、COSMO科斯莫、SAKURAI櫻井無塵紙、TOE東京光電子、EYE巖崎UV燈管、SANKO山高、HOYA豪雅光源、日本IMV愛睦威地震儀、HOKUYO北陽電機、SAKAGUCHI坂口電熱、ThreeBond三鍵膠水等.
產(chǎn)品中心
-
CEDAR思達
-
Stucchi思多奇
-
NITTO KOHKI日...
-
Sankei
-
KYOWA協(xié)和工業(yè)
- DIT東日技研
- AITEC艾泰克
-
SIGMAKOKI西格瑪...
- REVOX萊寶克斯
- CCS 希希愛視
- SIMCO思美高
- POLARI0N普拉瑞
- HOKUYO北陽電機
- SSD西西蒂
- EMIC 愛美克
- TOFCO東富科
-
打印機
- HORIBA崛場
- OTSUKA大冢電子
- MITAKA三鷹
- EYE巖崎
- KOSAKA小坂
-
SAGADEN嵯峨電機
- TOKYO KEISO東...
- takikawa 日本瀧...
- Yamato雅馬拓
- sanko三高
- SEN特殊光源
-
SENSEZ 靜雄傳感器
- marktec碼科泰克
- KYOWA共和
- FUJICON富士
- SANKO山高
-
Sugiyama杉山電機
-
Osakavacuum大...
-
YAMARI 山里三洋
- ACE大流量計
- KEM京都電子
- imao今尾
- AND艾安得
- EYELA東京理化
- ANRITSU安立計器
- JIKCO 吉高
- NiKon 尼康
- DNK科研
- Nordson諾信
- PISCO匹斯克
- NS精密科學
- NDK 日本電色
-
山里YAMARI
- SND日新
-
Otsuka大塚電子
- kotohira琴平工業(yè)
- YAMABISHI山菱
- OMRON歐姆龍
- SAKURAI櫻井
- UNILAM優(yōu)尼光
- ONO SOKKI小野測...
-
U-Technology...
- ITON伊藤
- chuhatsu中央發(fā)明...
- TOADKK東亞
- HOYA豪雅
- COSMOS日本新宇宙
-
UENO上野精機
- DSK電通產(chǎn)業(yè)
-
POLARION普拉瑞
- LUCEO魯機歐
- ThreeBond三鍵
-
HAMAMASTU濱松
-
TML東京測器
- SHINAGAWA SO...
- IMV愛睦威
- custom 東洋計量
- yuasa 尤阿薩
- HAYASHI林時計
- SIBATA柴田科學
- SEN日森特殊光源
-
HSK 平原精機
-
SOMA相馬光學
- iwata巖田
- MUSASHI武藏
- USHIO牛尾
- ACTUNI阿庫圖
- ORC歐阿希
- DRY-CABI德瑞卡比
- COSMO科斯莫
-
SHOWASOKKI昭和...
-
CHUBUSEKI中部精...
-
SAMCO薩姆肯
- navitar 納維塔
- ASKER 高分子計器
- KOSAKA Labor...
- EMIC愛美克
-
OPTEX奧泰斯
- NISSIN日進電子
- TANDD 蒂和日
- FUJI TERMINA...
- TAKASAGO高砂
- TAKIKAWA瀧川
- SUGAWARA菅原
- MACOME碼控美
-
FURUKAWA古河
-
TSUBOSAKA壺坂
- mitutoyo 三豐
- HAYASHI 林時計
- HOZAN 寶山
- FEI SEM電子顕微鏡
- YUASA尤阿薩
- SAKAGUCHI坂口電...
-
MDCOM 株式會社
-
inflidge 英富麗
- RKC 理化工業(yè)
- MORITEX茉麗特
- LIGHTING 光屋L...
- TEITSU帝通
- Excel聽音機
- SERIC索萊克
-
FUJI富士化學
-
TONCON拓豐
-
SHINKO新光電子
- Ono Sokki 小...
- 樂彩
- IIJIMA 飯島電子
- THOMAS托馬斯
- JIKCO吉高
- 分散材料研究所
-
NAVITAR納維塔
- Cho-Onpa 超音波...
- revox 萊寶克斯
- Toki Sangyo ...
- SUPERTOOL世霸
- EIWA榮和
- FUJITERMINAL...
- TOYOX東洋克斯
- AMAYA天谷制作所
-
TSUBAKI NAKA...
- TOPCON 拓普康
- NIKKATO日陶
- ITOH伊藤
- NEWKON新光
- SIBATA柴田
-
TAISEI
-
MITSUI三井電氣
-
加熱器
熱門品牌展示
產(chǎn)品展示
-
Otsuka大塚電子線掃描膜厚度計離線型 該設(shè)備可離線輕松進行表面厚度不均勻性檢測，用于薄膜等的研發(fā)和質(zhì)量控制的抽查。 整個表面可以快速、高精度地測量。
-
Otsuka大塚電子在線膜厚測量厚度計塔瑪薩崎電子代理銷售 該裝置可以測量薄膜的整個寬度和總長度，用于在線薄膜生產(chǎn)現(xiàn)場。 通過將新開發(fā)的高精度薄膜厚度計算技術(shù)與專有光譜干涉方法相結(jié)合，可以在每 0.01 秒的測量間隔內(nèi)測量 500mm 寬度（使用一臺）的薄膜厚度。
-
Otsuka大塚電子 RETS延遲測量設(shè)備 它是一種延遲測量設(shè)備，適用于所有薄膜，包括 OLED 偏振板、層壓緩速膜和帶 IPS 液晶緩速膜的偏振板。 實現(xiàn)超高Re.60000nm的高速、高精度測量。 薄膜的層壓狀態(tài)可以通過“無剝離、無損”進行測量。 此外，它還配備了簡單的軟件和校正功能，通過重新放置樣品來糾正偏差，從而輕松實現(xiàn)高精度測量。
-
塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司江蘇代理大塚電子 OPTM-A1膜厚計 OPTM（Optim）是一種利用顯微分光在微區(qū)域進行**反射率測量，可實現(xiàn)高精度薄膜厚度和光學常數(shù)分析的裝置。 涂層膜的厚度和多層膜（如各種薄膜、晶圓和光學材料）可以無損或非接觸式測量。 測量時間可以高速測量 1 秒/點。 此外，它配備了一個軟件，即使是初學者可以很容易地分析光學常數(shù)。
-
塔瑪薩崎代理Otsuka大塚多通道光譜儀 MCPD-6800 MCPD-6800 是光譜測量和分析的基本系統(tǒng)。 即時測量光譜，自由組裝測量光學系統(tǒng)和多種選項，可根據(jù)各種目的進行系統(tǒng)升級。 測量波長范圍有四種類型可供選擇。
-
多功能多通道光譜探測器，支持從紫外到近紅外區(qū)域。 光譜測量可在 5 毫秒內(nèi)進行。 標準儀器的光纖支持各種測量系統(tǒng)，無需識別樣品類型。 除了顯微分光、光源發(fā)射、透射和反射測量外，它還與軟件相結(jié)合，支持物體顏色評估和薄膜厚度測量。
-
它是一種延遲測量設(shè)備，適用于所有薄膜，包括 OLED 偏振板、層壓緩速膜和帶 IPS 液晶緩速膜的偏振板。 實現(xiàn)超高Re.60000nm的高速、高精度測量。 薄膜的層壓狀態(tài)可以通過“無剝離、無損”進行測量。 此外，它還配備了簡單的軟件和校正功能，通過重新放置樣品來糾正偏差，從而輕松實現(xiàn)高精度測量。
-
特點 使用靜態(tài)光散射法測量優(yōu)良分子量、慣性半徑和第 二維系數(shù)是可能的。 可以對 Zimm 繪圖、伯利圖、Zimm 平方根圖、單濃度圖和 Debye 圖進行各種分析。 系統(tǒng)將詢問您如何安排您的會議。 可選的桿單元支架可實現(xiàn)光纖材料（散裝）的優(yōu)良散射強度測量。
-
使用動態(tài)光散射方法測量顆粒大小和顆粒大小分布（顆粒大小和顆粒大小分布）是可能的。 您可以選擇 He-Ne 激光、固態(tài)激光和雙激光規(guī)格。 相關(guān)計高達 4096ch，可實現(xiàn)多模式分析，如聚合物濃縮溶液。 與可選的凝膠旋轉(zhuǎn)單元結(jié)合使用時，可以分析凝膠狀態(tài)。
-
特點 使用動態(tài)光散射法測量顆粒大小和顆粒大小分布（顆粒大小和顆粒大小分布），并使用靜態(tài)光散射方法測量優(yōu)良分子量、慣性半徑和第 二維真實系數(shù)。 您可以選擇 He-Ne 激光、固態(tài)激光和雙激光規(guī)格。 采用浸入式細胞光學系統(tǒng)，可以高精度地測量微弱散射的納米級粒子。 相關(guān)計高達 4096ch，可實現(xiàn)多模式分析，如聚合物濃縮溶液。 與可選的凝膠旋轉(zhuǎn)單元結(jié)合使用時，可以分析凝膠狀態(tài)。
-
散射角度為0.33~45°的測量*短為10msec※可以測量 評估亞微米至數(shù)百微米的結(jié)構(gòu) 使用專用電池測量溶液樣品 在軟式 Hv 散射和 Vv 散射測量中輕松切換 桌面類型，可安裝在實驗室中 ※不使用HDR功能時
-
一臺儀器可輕松連續(xù)測量 5 個樣本，無需自動采樣器即可實現(xiàn) 多個樣本的連續(xù)測量，也可以通過改變每個樣本的條件進行測量。 支持從稀釋到厚系統(tǒng) 標準測量時間 1 分鐘的高速測量 自動調(diào)整從厚系統(tǒng)到稀薄樣品的*佳測量位置，實現(xiàn)約 1 分鐘的高速測量 簡單易懂的測量功能（只需單擊一下即可 開始測量），無需復雜的操作 內(nèi)置非浸沒式細胞塊，無分包的無孔， 每個細胞都是獨立的，因此無需擔心不成問題。 配備 溫度梯度功能，可輕松設(shè)置溫度
